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| 用 途 |
| ·在光学冷加工中用于检验球面和非球面的质量 |
| ·测定光学零件或光学系统的像差，如球差、像散等 |
| ·测定凹球面的曲率半径 |
| ·检验光学材料中的缺陷，如条纹，不均匀性等 |
| ·光学系统的检验和装配，用它检验各种非球面及大口径的球面和平面 |
| 技 术 指 标 |
| ·相对孔径：D/F=1：2 |
| ·小孔直径：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm |
| ·狭 缝 宽：0.05，0.15mm |
| ·仪器重量：2KG |
| ·粗调升降：70mm |
| ·微调升降：15mm |
| ·移 动 量：纵向横向各15mm |
| ·读 书 值：0.01mm |
